Os resultados foram publicados no Applied Physics Letters, periódico do American Institute of Physics. A porta flutuante é um dos tipos de transistores na memória flash, separada da porta de controle por uma camada fina de um óxido.
Os cientistas escolheram o irídio principalmente por duas propriedades muito desejadas na fabricação de memórias eletrônicas. Em primeiro lugar, o metal mantém fortemente seus elétrons, o que é uma propriedade excelente relacionada com a manutenção de informação digital.
Em segundo, tem um ponto de derretimento de cerca de 2.500º C, muito acima dos 900º C que os chips precisam suportar durante a fabricação. Além disso, apesar de ser raro, apenas um bilionésimo de bilionésimo de grama de irídio é necessário para cada porta das memórias.
Muitos países têm investigado novas formas de melhorar a popular memória flash, que é um tipo de chip de memória não volátil usado em praticamente todas as câmeras digitais e eletrônicos portáteis. Recentemente, a memória flash também tem sido aplicada em computadores, como a nova versão do MacBook Air, da Apple.
Segundo o novo estudo, a maneira mais fácil para que as futuras memórias do tipo contenham mais dados e possam gravar e acessar dados mais rapidamente está na diminuição das dimensões dos chips atuais, incluindo das portas de seus transistores.
O problema é que o desenho da porta flutuante atual já evoluiu até um ponto a partir do qual não será possível diminuir muito mais e continuar suportando as cargas elétricas responsáveis pelo armazenamento dos dados.
E é aí que entram os nanocristais de irídio, propostos como uma mudança relativamente simples para melhorar a performance e reduzir o tamanho dos componentes, sem que isso implique alterar fundamentalmente seu desenho atual.
O artigo Formation of iridium nanocrystals with highly thermal stability for the applications of nonvolatile memory with excellent trapping ability (doi:10.1063/1.3498049), de Wen-Shou Tseng e outros, pode ser lido por assinantes da Applied Physics Letters em http://link.aip.org/link/applab/v97/i14/p143507/s1.
Agência FAPESP